Mikroskopie

Optická mikroskopie však naráží na svoje limity při pozorování objektů a vrstev, jejichž rozměry jsou menší než 0,2 µm. Abychom byli schopni pokrýt potřeby zákazníků, navázali jsme spolupráci s Akademii věd ÚFM sídlící v Brně. V současné době zde využíváme skenovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMU FEG/SEM vybaven detektorem EDS Ultimax a softwarem AZtec.

Jsme schopni provádět:

• měření tlouštěk vrstev
• měření polí nejhorších inkluzí
• měření hloubky a porozity v povlaku i v základním materiálu
• měření distribuce částic
• měření velikost zrna (lineární průsečíkovou a planimetrickou metodou)
• měření drsnosti podkladového materiálu
• zjistit skladbu a chemické složení tenkých vrstev v řádech jednotek nm
• určování náchylnosti k mezikrystalické korozi – tvářené výrobky ze slitin hliníku řady AL-P2XXX-, AL-P7XXX- a slitin hliník-lithium dle ČSN EN 2716

Zjištěním skladby a chemického složení jednotlivých vrstev, získáváme také informace o samotné přípravě. Tyto informace nám pomáhají při expertizní činnosti laboratoře SQI. Dokážeme pak snáze identifikovat vadu prostupující základním materiálem a nátěrovým systémem a vyhodnotit její možné příčiny.

Naše laboratoř je připravena vyhovět i těm nejnáročnějším požadavkům a jsem schopni pokrýt a zajistit analýzy k získání těch nejlepších možných výsledků. Pokud máte zájem o naše služby nebo potřebujete konzultaci, neváhejte nás kontaktovat.

Identifikace vad